Universidad del Valle Biblioteca Digital

Biblioteca Digital Universidad del Valle > Patrimonio Documental Universidad del Valle > Tesis y Trabajos de Grado > Facultad de Ingeniería > Ingeniería Electrónica >

Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/10893/10298

Título : Gestión y parametrización de un sistema de correlación de eventos basado en OSSIM de la red farallones de la Universidad del Valle [recurso electrónico]
Autores: Mondragon Valencia, Oscar Orlando
Guerrero Moreno, Fabio Germán (Director de Tesis o Trabajo de Grado)
Palabras clave : Redes de datos
Bases de datos
Seguridad informática
Aplicaciones informáticas
Protocolos de comunicación
Universidad del Valle
Fecha de publicación: 10-jul-2017
Resumen: En este documento se presentan las bases para la gestión y la parametrización de un sistema de correlación de eventos basado en OSSIM de la red Farallones de la Universidad del Valle. Se describen las plataformas usadas en la gestión de la red Farallones, partiendo del sistema Alcatel Omnivista, seguido de la consola de seguridad Open Source Security Information Management OSSIM con su arquitectura y componentes.
URI: http://hdl.handle.net/10893/10298
Aparece en las colecciones: Ingeniería Electrónica

Texto completo:

Archivo Descripción Tamaño Formato
CB-0478559.pdf16.18 MBAdobe PDFDescargar aquí
Ver estadísticas

Los ítems de Biblioteca Digital están protegidos por copyright, con todos los derechos reservados, a menos que se indique lo contrario.

 

Biblioteca Mario Carvajal
biblioteca@univalle.edu.co
Teléfonos +57 2 3212950 - Fax 3212977
Universidad del Valle - Ciudad Universitaria
Calle 13 # 100-00 Cali, Colombia
    Biblioteca San Fernando
biblioteca@univalle.edu.co
Teléfonos +57 2 5185633 - Fax 5581951
Universidad del Valle - Sede San Fernando
Calle 4a.B # 36-00
Cali, Colombia
    Biblioteca Colección Clínica
biblioteca@univalle.edu.co
Teléfonos +57 2 5576113
Hospital Universitario del Valle
Calle 5a # 36-08
Cali, Colombia
DSpace Software Copyright © 2002-2008 MIT and Hewlett-Packard