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Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/10893/1291

Título : Una revisión a la metodología IDDQ de test y verificación de circuitos integrados digitales
Autores: Caicedo, Eduardo
Barandica, Asfur
Palabras clave : IDDQ
Circuitos integrados digitales
Fecha de publicación: 13-oct-2011
Resumen: Este artículo presenta los fundamentos de la técnica de prueba para circuitos integrados digitales CMOS, conocida como el test looo, esta técnica, aún en periodo de desarrollo, tiene buena aceptación entre los diseñadores del ICS, puesto que permite la detección de fallas debidas a defectos estructurales, siendo especialmente adecuada cuando es posible la construcción de sensores de corriente en el mismo IC.
URI: http://hdl.handle.net/10893/1291
Aparece en las colecciones: Vol. 05 no. 1, 1996 / Energía y Computación

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