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Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/10893/1436

Título : Physical design to verify theoretical 0.1 PPM/[degrees]C stability in a bandgap type circuit
Autores: Polanco, Alicia
Nagy, Agnes
Alvarez, Manel
Palabras clave : Physical design
Temperature coefficient
Bandgap voltage references
Fecha de publicación: 13-oct-2011
Resumen: The propose of this paper is the experimental validation of a temperature coefficient less than 0.2 ppm/°C, theoretically obtained in a low-voltage bandgap references type circuit, using a design method based on the linear sum of two base-emitter voltages. The experiment consists of obtaining VREF(T) from experimental measurements of base-emitter voltage in a 20 to to 100 °C interval. The measurements of VBE(T) were performed on MAT01 industrial bipolar transistors.
URI: http://hdl.handle.net/10893/1436
Aparece en las colecciones: Vol. 13 no. 1, 2005 / Energía y Computación

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