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dc.contributor.authorCaicedo Bravo, Eduardo Franciscospa
dc.contributor.authorBarandica López, Asfurspa
dc.date.accessioned2011-10-13T17:38:19Z
dc.date.available2011-10-13T17:38:19Z
dc.date.issued2011-10-13
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10893/1291
dc.description.abstractEste artículo presenta los fundamentos de la técnica de prueba para circuitos integrados digitales CMOS, conocida como el test looo, esta técnica, aún en periodo de desarrollo, tiene buena aceptación entre los diseñadores del ICS, puesto que permite la detección de fallas debidas a defectos estructurales, siendo especialmente adecuada cuando es posible la construcción de sensores de corriente en el mismo IC.spa
dc.language.isoesspa
dc.subjectIDDQspa
dc.subjectCircuitos integrados digitalesspa
dc.titleUna revisión a la metodología IDDQ de test y verificación de circuitos integrados digitales.spa
dc.typeArticlespa
dc.rights.accessrightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessspa


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