Examinando por Materia "Perovskitas"

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    PublicaciónAcceso abierto
    Estudio del efecto de conmutación resistiva en heteroestructuras basadas en óxidos multifuncionales.
    (Universidad del Valle, 2019-07-12) Gross, Katherine; Gómez de Prieto, María Elena; Lopera Muñoz, Wilson; Porras Montenegro, Nelson; Suárez, Luisa Fernanda; Betancourt, John; Quiñonez, Mario Fernando; Torres, Margoth Lorena; Ceballos, Santiago; Marín, Lorena; Ramírez, Juan Gabriel; Grupo de investigación Películas Delgadas, Física Teórica del Estado Sólido.
    La conmutación resistiva de estructuras tipo conductor/aislante/conductor es actualmente un tópico altamente investigado debido a su potencial aplicación en el campo de dispositivos de memoria no volátil. El propósito general de este proyecto consistió en estudiar los mecanismos de conducción en el efecto de conmutación resistiva (RS) en películas y heteroestructuras basadas en óxidos multifuncionales y su dependencia con parámetros de fabricación y propiedades físicas de los materiales involucrados. Específicamente se fabricaron películas delgadas de óxidos multifuncionales tales como YBa2Cu3O7-δ, La1-xCaxMnO3, BiFeO3, HfO2, CeO2, ZnO(Co, Mn), YMnO3, CuO2, entre otros, las cuales fueron caracterizadas en sus propiedades físicas, estructurales, morfológicas y de transporte eléctrico. Una vez los sistemas estuvieron caracterizados a modo de monocapas, se fabricaron estructuras capacitivas tipo conductor/aislante/conductor utilizando los diferentes materiales óxidos en combinaciones tales como HfO2/Pt/TiO2/SiO2/Si, La1-xCaxMnO3/YBa2Cu3O7-δ, BiFeO3/YBa2Cu3O7-δ, (Mn, Co)ZnO/YMnO3, entre otros. Sobre estos sistemas se realizaron mediciones de magnitudes físicas que permitieron caracterizar el fenómeno de conmutación resistiva (Curvas I-V, capacitancia, r(R)=RHRS/RLRS, tiempos de retención, entre otros) y su dependencia con parámetros de deposición y material de los electrodos con el fin de dilucidar sobre los mecanismos de conducción. Se identificó que el espesor del óxido aislante juega un papel importante en la conmutación eléctrica del dispositivo; tal es el caso del sistema HfO2/Pt/TiO2/SiO2/Si. Este sistema se caracterizó usando indio (In) como electrodo superior variando el espesor de la capa HfO2 en un rango de 20 a 155 nm. Al variar el espesor, el dispositivo exhibió respuestas de conmutación resistiva diferentes de carácter unipolar, bipolar y complementaria. El dispositivo In/HfO2(155nm)/Pt exhibió un tiempo de retención superior a 1.8 x 105 s, valor con el cual se extrapola la retención de los estados de resistencia a un orden de 10 años. Por otro lado, se estudió la respuesta de conmutación resistiva en función del material del electrodo superior, usando YBa2Cu3O7-δ y Ag en el sistema BiFeO3/YBa2Cu3O7-δ; encontrándose asimetrías en las curvas corriente-voltaje que permiten elucidar el mecanismo de conducción presente en cada caso.
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    PublicaciónAcceso abierto
    Síntesis y caracterización de una perovskita simple del tipo La 0.8 Sr 0.2 CrO3.
    (2018-07-23) Neira Guio, Ariatna Y.; Cuaspud, Jairo A. Gómez; Vera López, Enrique
    En este trabajo se explora la síntesis y caracterización de un óxido cerámico tipo La 0.8 Sr 0.2 CrO3, a través de intermediarios tipo citrato que propiciaron la obtención de una fase cristalina pura del material a 900 grados centígrados. En la etapa inicial del proceso se partió de disoluciones de nitratos y ácido cítrico, que se tratarom a una temperatura de 120 grados centígrados, hasta la consolidación de un gel que luego de ser tratado a 250 grados centígrados conformó un precursor metal orgánico que sirvió de base para la obtención del óxido cerámico. El precursor se caracterizó por espectroscopia infrarroja (FTIR) y análisis térmico (TGA-DTA), para evaluar la formación de los respectivos citratos e identificar la temperatura ideal de tratamiento térmico para evitar la potencial volatización de especies de cromo. El material calcinado se caracterizó por difracción de rayos X (XRF)y microscopía electrónica (SEM-TEM), los resultados permitieron identificar la morfología, la textura y las características superficiales del material, con tamaños promedio de cristalito de 45 nm y distancias interplanares de 0.29 nm para el principal plano de difracción (1 1 2). La composición química del sólido fue determinada mediante fluorecencia de rayos X (XRF), indicando la efectividad del método de síntesis propuesto.